OBLF火花光譜儀VeOS

VeOS 是一款配備基于半導(dǎo)體檢測(cè)器系統(tǒng)的火花光譜儀，其分析性能（包括實(shí)驗(yàn)室光譜儀所需的光譜分辨率）與已建立的基于光電倍增管的系統(tǒng)一樣好。這種全新的光電探測(cè)器技術(shù)專(zhuān)為火花發(fā)射光譜而開(kāi)發(fā)，可確保在 130 至 800 nm 的整個(gè)所需波長(zhǎng)范圍內(nèi)獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。 光敏探測(cè)器的設(shè)計(jì)特點(diǎn)是其表面的光敏度是傳統(tǒng)系統(tǒng)中探測(cè)器的 100 倍，專(zhuān)門(mén)針對(duì)發(fā)射光譜的要求進(jìn)行了調(diào)整。因此，這是一款提供光譜靈敏度和光譜分辨率的組合以及創(chuàng)新設(shè)計(jì)的設(shè)備，既保證了 OBLF 的眾所周知的質(zhì)量，又保證了大的使用靈活性。

• 完整而靈活地包含所有分析任務(wù)
• 易于擴(kuò)展的功能
• 新的、專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的檢測(cè)器技術(shù)
• 在檢出限、準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性方面表現(xiàn)良好
• 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)，適用于重載環(huán)境
• 全面的多矩陣應(yīng)用選項(xiàng)，沒(méi)有任何限制
• 關(guān)于選擇分析元素
• 準(zhǔn)確檢測(cè) N 和痕量碳 (ULC)

• 光學(xué)系統(tǒng)：

Paschen-Runge 陣容

溫度穩(wěn)定在 +5°C

分辨率 7 pm/Pixel（50 pm/Pixel 堿性光學(xué)）

波長(zhǎng)范圍 130 - 680/780 nm

三種固態(tài)探測(cè)器

優(yōu)化 OES 的像素區(qū)域

由于背面照明，對(duì)短波長(zhǎng)的靈敏度高

• 電子

每個(gè)像素的 16 位 AD 轉(zhuǎn)換

DSP 處理器控制的傳感器讀數(shù)

連接光譜儀 PC 的 USB 接口

• 電源供應(yīng)：

230V; 50/60 Hz; 1,5 kVA

待機(jī)模式下 300 W

• 環(huán)境條件

工作溫度：10 – 40 ºC

尺寸和重量

寬度：74 cm

高度：134 cm

深度：115 cm

重量：約 300 kg