THORLABS光纖端面干涉儀GL16

GL16光纖端面幾何形狀測量儀器使用非常簡單，能夠測量單芯和多芯接頭的端面幾何形狀，并對其成像。它采用非接觸式白光掃描干涉技術(SWLI)，能夠提供高準確度、高重復性和高可靠性的光纖接頭測試，尤其適合根據IEC或Telcordia標準進行的合格/不合格測試。系統(tǒng)既可以通過觸摸屏進行本地控制，又可以通過基于瀏覽器的應用程序實施遠程操作，易于集成到生產車間。

所有系統(tǒng)組件完全集成在封閉的外殼中。寬帶寬570 nm LED光源配合邁克爾遜干涉物鏡使用，測量間隔高度變化高達35 μm的相移。壓電位移臺相對于接頭移動干涉物鏡，并使用高分辨率相機收集所產生的干涉圖案。然后生成接頭表面的3D高度圖，并利用2.2 µm的橫向分辨率和1.1 nm的高度分辨率計算光纖幾何形狀參數。白光干涉法還能夠表征凹陷或突出的光纖，而這一點在使用單色干涉儀時可能會被忽略。

附帶的GL16M4 MT型安裝夾具有助于實現一次8秒測量12芯每行的插芯中max.72根光纖。換出附帶的夾具，GL16還可測量其他光纖類型和接頭類型。請根據待測接頭類型和光纖數量在下方選擇合適的安裝組件。

• 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀
• 非接觸式閉環(huán)壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
• 完全符合IEC和Telcordia等行業(yè)規(guī)范
• 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
• NIST可追蹤標準，用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
• 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時間≤8 s(典型值)
• 基于瀏覽器的應用程序，支持遠程訪問操作
• 導出為.CSV格式的數據，SQL數據庫或掃描報告